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簡單介紹冷鏡露點儀的阻容法
更新時間:2015-04-02   點擊次數(shù):2185次
  簡單介紹冷鏡露點儀的阻容法
  冷鏡露點儀的阻容法是一種不斷完善的濕度測量方法。利用一個高純鋁棒,表面氧化成一層超薄的氧化鋁薄膜,其外鍍一層多空的網(wǎng)狀金膜,金膜與鋁棒之間形成電容,由于氧化鋁薄膜的吸水特性,導致電容值隨樣氣水分的多少而改變,測量該電容值即可得到樣氣的濕度。該方法的主要優(yōu)點是測量量程可更低,甚至達-100℃,另一突出優(yōu)點是響應(yīng)速度非???,從干到濕響應(yīng)一分鐘可達90%,冷鏡露點儀因而多用于現(xiàn)場和快速測量場合;缺點是精度較差,不確定度多為±2~3℃。老化和漂移嚴重,使用3~6個月必須校準。但隨著各廠家的不斷努力,該方法正在逐漸得到完善,例如,通過改變材料和提高工藝使得傳感器穩(wěn)定度大大提高,通過對傳感器響應(yīng)曲線的補償作到了飽和線性,解決了自動校準問題。
  任何光學系統(tǒng)均會受到染影響,冷鏡露點儀也不例外。特別是清潔鏡面后會減少光反射,雖然對儀表性能影響微乎其微,但是日益積累超過一定程度,系統(tǒng)將無法準確地運作。因此,冷鏡露點儀均植入了一個自動補償系統(tǒng)自動平衡補償(ABC)定期地重新平衡傳感光學元件,補償任何由于污染而引起的光強度地減少。擁有各種周期和持續(xù)時間的ABC系統(tǒng),能根據(jù)特定工業(yè)過程情況選擇合適的時間。在ABC階段中保持顯示和輸出數(shù)據(jù),允許*的連續(xù)的工業(yè)過程控制。Optidew具有動態(tài)污染糾正(即DCC)。DCC是智能化的微處理器控制的系統(tǒng),工作原理與ABC相同,但是檢測和補償污染更為先進,并能自動地糾正飽和條件,如當傳感器處于氣體凝露的情況下。
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